快速溫變測試箱的低速模式多用于消費電子、工業(yè)控制產(chǎn)品的長期溫循老化測試，模擬產(chǎn)品生命周期內(nèi)的自然溫變過程。例如路由器主板測試需遵循 IEC 60068-2-14 標準，采用 3℃/min 速率完成 - 20℃~60℃循環(huán)，驗證元器件焊接點的長期穩(wěn)定性；智能家居傳感器測試則以 5℃/min 速率進行 - 10℃~45℃循環(huán)，模擬四季溫變對靈敏度的影響。此類場景下，低速可避免樣品因溫差過大產(chǎn)生不可逆形變，確保測試數(shù)據(jù)反映真實老化狀態(tài)。

中速是快速溫變測試箱的主流應用速率，適配汽車電子、動力電池等領域的熱循環(huán)測試。依據(jù) AEC-Q100 標準，車載 MCU 需以 10℃/min 速率完成 - 40℃~125℃循環(huán)，驗證高溫高濕環(huán)境下的邏輯功能穩(wěn)定性；動力電池包測試則采用 8℃/min 速率，在 - 30℃~55℃區(qū)間復現(xiàn)充電 / 放電過程中的溫變，評估熱管理系統(tǒng)效率。廣皓天此類快速溫變測試箱的中速模式，通過非線性 PID 算法實現(xiàn)速率波動≤1℃/min，滿足 1000 次以上循環(huán)的一致性要求。