快溫變高低溫實(shí)驗(yàn)箱的檢測(cè)數(shù)據(jù)是產(chǎn)品研發(fā)、量產(chǎn)質(zhì)檢的核心依據(jù)，溫場(chǎng)均勻度失衡會(huì)使樣品不同部位處于差異化溫度環(huán)境，造成檢測(cè)結(jié)果偏離真實(shí)性能。例如，在電子元器件檢測(cè)中，若箱內(nèi)局部溫度比設(shè)定值高 5℃，處于該區(qū)域的芯片可能提前觸發(fā)高溫保護(hù)，誤判為 “高溫耐受性不達(dá)標(biāo)"；而處于低溫區(qū)域的同批次芯片，又可能因低溫應(yīng)力不足，掩蓋其低溫下的性能缺陷。這種 “同樣不同測(cè)" 的情況，會(huì)讓企業(yè)誤將合格產(chǎn)品判定為不合格，或讓存在隱患的產(chǎn)品流入市場(chǎng)，嚴(yán)重影響質(zhì)量管控效率。

快溫變高低溫實(shí)驗(yàn)箱的快速溫變循環(huán)本就對(duì)樣品材料性能有嚴(yán)苛考驗(yàn)，溫場(chǎng)均勻度超范圍會(huì)進(jìn)一步加劇樣品局部的應(yīng)力損傷。以汽車動(dòng)力電池為例，若箱內(nèi)溫度分布不均，電池模組某區(qū)域長(zhǎng)期處于高于設(shè)定值的環(huán)境中，該區(qū)域的電芯會(huì)出現(xiàn)電解液分解速度加快、電極材料老化加速的問題，而其他區(qū)域電芯性能正常。這種局部老化差異會(huì)導(dǎo)致整個(gè)電池模組充放電循環(huán)壽命大幅縮短，實(shí)際裝車后可能出現(xiàn)續(xù)航衰減快、局部過熱等故障，與快溫變實(shí)驗(yàn)箱 “模擬真實(shí)使用環(huán)境、驗(yàn)證產(chǎn)品壽命" 的初衷相悖。

對(duì)于航空航天、醫(yī)療設(shè)備等對(duì)環(huán)境適應(yīng)性要求領(lǐng)域，快溫變高低溫實(shí)驗(yàn)箱溫場(chǎng)均勻度超范圍可能直接導(dǎo)致樣品功能失效，甚至引發(fā)安全事故。例如，航空電子設(shè)備中的線路板在快溫變實(shí)驗(yàn)中，若局部溫度過低，會(huì)使線路板上的焊點(diǎn)出現(xiàn)冷裂紋，而其他區(qū)域溫度正常 —— 實(shí)驗(yàn)中未發(fā)現(xiàn)的隱患，在高空低溫環(huán)境下可能突然爆發(fā)，導(dǎo)致設(shè)備信號(hào)中斷；又如醫(yī)療監(jiān)護(hù)儀的傳感器，若在實(shí)驗(yàn)中因局部高溫提前老化，會(huì)導(dǎo)致其在實(shí)際使用中出現(xiàn)數(shù)據(jù)漂移，影響患者生命體征監(jiān)測(cè)的準(zhǔn)確性。這些問題的根源，均是快溫變高低溫實(shí)驗(yàn)箱溫場(chǎng)均勻度失控，未能真實(shí)模擬統(tǒng)一的環(huán)境。